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エレクトロニクス

エレクトロニクス

CTスキャンでは、分解せずに電子アセンブリを包括的に3次元で表示できます。この高度な機能は、次のようなデバイスの性能や安全性を損なう可能性のある重大な欠陥を特定するために不可欠です。

  • コンポーネントのミスアライメントと配置エラー
  • はんだ接合部の完全性と気孔率
  • ワイヤーボンドの品質と異常
  • 異物の存在
  • コンフォーマルコーティングの均一性
  • 回路基板のトレースとビアの完全性
  • ケーシングとカプセルの構造的完全性
  • 熱応力または部品故障の初期兆候

産業用CTが高度な電子機器の信頼性を確保するのにどのように役立つかについて詳しくは、無料のウェビナー(左)をご覧ください。

Lumafield’s CT scanner and software gave us superpowers to see exactly what was built,  allowing us to ensure our products are being assembled correctly without destroying units or compromising our testing data.

アップルサンダーボルト 4 (USB-C) プロケーブル

産業用CTにより、このApple Thunderbolt 4 (USB-C) Proケーブルのすべての重要なコンポーネントを高解像度で検査できます。これには、9層PCBAのブラインドビアや埋め込みビアも含まれます。

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集積回路 (IC)

Microfocus Neptuneを使用すると、このIC内のワイヤとピンのボンディングとダイの配置を正確に検査できます。

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BGA コンポーネント

産業用CTでは、電子障害の原因となるBGAとはんだ接合部の気孔率を正確に視覚化して定量化できます。

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電子欠陥に関するエンジニア向けガイド

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