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電子機器

電子機器

電子機器は現代のテクノロジーの基本であり、消費者向けガジェットから高度な産業機械や重要な医療機器に至るまで、さまざまなイノベーションを推進しています。電子機器がより小型で複雑になるにつれて、その信頼性と機能性を確保することが最重要課題となっています。しかし、目視検査や電気検査などの従来の方法では、デバイスの完全性や性能を損なう微妙な欠陥を見逃す可能性があります。

ルマフィールドの ネプチューン 産業用CTスキャナーと ボイジャー 分析ソフトウェアは、コンポーネントの詳細な内部ビューをキャプチャする非破壊ソリューションを提供することにより、電子機器の検査を迅速化します。この技術により、メーカーはこれまでにない精度で隠れた欠陥の特定、アセンブリの品質の評価、部品の配置の検証が可能になり、製品の品質が向上し、故障のリスクが軽減されます。

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CTスキャンでは、分解せずに電子アセンブリを包括的に3次元で表示できます。この高度な機能は、次のようなデバイスの性能や安全性を損なう可能性のある重大な欠陥を特定するために不可欠です。

  • コンポーネントのミスアライメントと配置エラー
  • はんだ接合部の完全性と気孔率
  • ワイヤーボンドの品質と異常
  • 異物の存在
  • コンフォーマルコーティングの均一性
  • 回路基板のトレースとビアの完全性
  • ケーシングとカプセルの構造的完全性
  • 熱応力または部品故障の初期兆候

‍産業用CTが高度な電子機器の信頼性を確保するのにどのように役立つかについて詳しくは、無料のウェビナー(左)をご覧ください。

Lumafield’s CT scanner and software gave us superpowers to see exactly what was built,  allowing us to ensure our products are being assembled correctly without destroying units or compromising our testing data.

Sam Holland

Co-Founder of Informal

アップルサンダーボルト 4 (USB-C) プロケーブル

産業用CTにより、このApple Thunderbolt 4 (USB-C) Proケーブルのすべての重要なコンポーネントを高解像度で検査できます。これには、9層PCBAのブラインドビアや埋め込みビアも含まれます。

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集積回路 (IC)

Microfocus Neptuneを使用すると、このIC内のワイヤとピンのボンディングとダイの配置を正確に検査できます。

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BGA コンポーネント

産業用CTでは、電子障害の原因となるBGAとはんだ接合部の気孔率を正確に視覚化して定量化できます。

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Applications include:

組み立て検証
欠陥検出
非破壊検査 (NDT)
寸法測定
ファースト・アーティクル・インスペクション (FAI)
設計検証と妥当性の確認
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電子欠陥に関するエンジニア向けガイド

無料のホワイトペーパーをダウンロードして、 電子欠陥に関するエンジニア向けガイド、電子欠陥の一般的な原因とその方法について学ぶ インダストリアル CT これらの課題に効果的に対処するための包括的で非破壊的なソリューションを提供します。

ルマフィールドの ネプチューン スキャナーと ボイジャー 分析ソフトウェアにより、電子機器エンジニアやメーカーは、これまでにないレベルの品質管理を実現し、製造コストを削減し、製品パフォーマンスを向上させることができ、最終的には顧客満足度とブランドの信頼の向上につながります。

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